C 控制图

图形 - C 控制图

C 控制图用于评估每个样本中的瑕疵数是否受控。C 控制图包括：

· 标绘点，它们表示每个样本的缺陷数

· 中心线（绿色），是每个样本中瑕疵的平均数

· 控制限制（红色），位于中心线上下 3 s 处，并用于直观地评估何时对过程采取操作。

Minitab 最多可对 C 控制图执行 4 项特殊原因检验，这些检验可检测数据中超出控制限制和特定模式的点。数据点未通过检验时，Minitab 在 NP 图中以红色星号和所未通过的检验的编号对其进行标记。未通过检验的点表明数据中存在可能由于特殊原因变异所导致的非随机模式。应当对这些点进行调查分析。

注意	样本大小发生变化时不应使用 C 控制图，因为控制限制和中心线都会随样本大小的变化而变化。这使得 C 控制图变得难以解释。当样本大小总是变化时，请使用 U 控制图。

输出示例

解释

壁纸数据的 C 控制图可以汇总如下：

· 控制下限和控制上限分别为 18.51 和 54.85。因此，每个样本的瑕疵数预期落于 18.51 和 54.85 之间。中心线（每个样本中瑕疵的平均数）为 36.68。

· 两个位于控制上限 54.85 上方的点未通过检验 1，因为它们位于中心线上方大于 3 s 处。检验 1 是不受控过程的最有力指标。

因此，壁纸过程不受控，这可能是由于存在特殊原因所致。接下来，要尝试认定并校正导致此特殊原因变异的那些因子。消除这些原因后，过程才能达到一种统计控制状态。