量具 R&R 研究（嵌套）

摘要

  

每次测量过程结果时都会发现某些变异。产生这样的变异的变异源有两个：其一，由任何过程制造的部件之间始终都存在差别，其二，记录测量值的任何方法都是不完美的。因此，重复测量相同部件也不会得到完全相同的测量值。

使用量具 R&R 研究（嵌套）可以确定测量产生的变异性中哪一部分是由测量系统本身引起的。测量系统变异性包括由量具本身和操作员之间的变异性引起的变异。

当满足下列假定条件时嵌套量具 R&R 将用于进行破坏性实验：

·    同一批内的所有部件都极为相似，以至于可以认为是同一种部件

·    操作员每次从不同批次中进行测量

在进行量具 R&R 研究时，测量应按随机顺序进行，所选部件在可能的响应范围内提供了代表性样本，这一点非常重要。

数据说明

三位操作员分别测量了三个不同部件的温度，每个部件测量三次。注意由每位操作员测量的部件是唯一的。

 

数据： 温度.MTW （在样本数据文件夹中）