Cpk、CPU 和 CPL

潜在过程能力的度量，使用来自研究中的子组的数据进行计算。它们度量的是过程平均值与规格限之间的距离，与过程展开相比较：

· CPL 测量过程均值趋近规格下限的程度

· CPU 测量过程均值趋近规格上限的程度

· Cpk 等于 CPU 与 CPL 中的较小者。

如果 Cpk、CPU 和 CPL 都相等，过程将恰好在规格限的中点处居中。将值与基准进行比较，以确定是否改进过程；许多行业都使用 1.33 的基准值。以下图形说明了各种各样的情况：

Cpk = CPL = CPU = 2.76
	此图显示了一种理想情况。所有三个指数的值均为 2.76，这表明过程平均值与每个规格限之间的距离是单侧过程展开的 2.76 倍。
Cpk = min {CPL = 0.96, CPU = 4.56} = 0.96
	当 CPL < CPU 时，过程将不居中。更可能产生违反规格下限的缺陷单元。
Cpk = min {CPL=4.56, CPU = 0.96} = 0.96
	当 CPL > CPU 时，过程将不居中。更可能产生违反规格上限的缺陷单元。

Cpk 指数的缺点是它只能代表过程曲线的一侧，而无法告知有关另一个极值的任何信息。例如，下面两个图形显示的过程具有相同的 Cpk 值。但是，一个图形同时违反了两个规格限，另一个图形只违反了规格下限。为避免错误，请将所有指标与图形化汇总结合起来考虑，以得出有意义的结论。

Cpk = CPL = CPU = 0.96		Cpk = min {CPL = 0.96, CPU = 4.56} = 0.96

注意：	这些能力指数与 Ppk、PPL 和 PPU 类似，后者使用整体过程标准差来评估相同的属性，而不是使用子组。