CUSUM 控制图

一种时间加权控制图,显示每个样本值与目标值的偏差的累积和 (CUSUM)。因为它是累积的,所以即使是过程均值中的微小波动也会导致累积偏差值的稳定增加(或降低)。因此,此控制图特别适用于检测因机器磨损、校准问题等引起的缓慢偏离目标值的过程。CUSUM 控制图上的点应在 0 周围随机波动。如果呈现上升或下降趋势,则应视为有迹象表明过程均值已出现偏移,并应查找特定起因。

Minitab 可生成两种 CUSUM:

·    两个单侧 CUSUM(默认设置)。上限 CUSUM 检测过程水平中的向上偏移,下限 CUSUM 检测向下偏移。此控制图使用控制限制(UCL 和 LCL)确定何时出现不受控制的情况。

·    一个双侧 CUSUM。此控制图使用 V-mask,而不是控制限制来确定何时出现不受控制的情况。V-mask 会将与目标值的偏差标准化,并标绘与此值的偏差。

例如,一家离心机转子生产商想要跟踪一周内生产的所有转子的直径。直径与目标值必须非常接近,因为即使很小的偏差都会导致问题的出现。下面是所获得的 CUSUM 控制图(两个单侧 CUSUM)。

CUSUM 控制图

 

点随机地分布在中心线周围,并落在控制限内,只有一个点除外。未显示出任何趋势或模式。转子直径中的变异性看起来很稳定,但应对失控的点进行调查。

 

图中的点可以基于子组,也可以基于单个观测值。当数据在子组中时,计算每个子组中所有观测值的均值。然后,根据这些均值得出 CUSUM 统计量。如果您具有的是单个观测值,则根据单个观测值得出 CUSUM 统计量。