短期和长期 Z

短期 Z 基准和长期 Z 基准

Z 基准值用于描述过程的能力，也称为过程的西格玛能力。

短期 Z 基准（Z 基准LT）	长期 Z 基准（Z 基准ST）
过程分布中心到红线之间的距离是短期标准差的倍数。此红线表示在正态曲线上，红线外的概率等于公差限外两边的缺陷数相加之和。（因此，在规格上限和下限之外的缺陷组合在曲线的右侧）。	过程分布中心到红线之间的距离是长期标准差的倍数。此红线表示在正态曲线上，红线外的概率等于公差限外两边的缺陷数相加之和。（因此，在规格上限和下限之外的缺陷组合在曲线的右侧）。

LSL USL	LSL USL
如果可以保持此短期变异，则它是对当前过程执行情况的度量。这是最佳情况或过程权利。	它是对真实性的较好度量，因为通常无法在一段时间内保持短期变异。它表示客户感受的痛苦。

使用基准 Z 值，可以确定总缺陷，并可轻松将这些度量转换为 DPMO。

Z 基准ST 和 DPMOLT 通常一起使用。

注意	ZST 上限表示中心和规格上限之间的短期标准差倍数。类似地，ZST 下限表示中心和规格下限之间的短期标准差倍数。

Z 偏移是 Z 基准ST 与 Z 基准LT 之间的差。如果能够更好地控制过程并消除或减少导致子组间变异的特殊原因，则 Z 偏移越大，改进的机会越多。
如果无法计算实际偏移，可以指定其他已知的偏移。实际情况下通常假定 1.5s 偏移 (ZST = ZLT + 1.5)。