heart小判官 发表于 2025-4-14 18:47:18

求GB T4937-2012半导体器件机械和气候试验方法

本帖最后由 heart小判官 于 2025-4-14 18:49 编辑

求GB T4937-2012半导体器件机械和气候试验方法，18302955362@163.com，谢谢各位大佬:loveliness:

teacherli 发表于 2025-4-15 08:07:54

这是三十几个系列标准啊大哥

yxp8012 发表于 2025-4-15 08:18:37

这不是分很多部分的。

liutaobd 发表于 2025-4-15 08:19:09

我也学习学习。

WJ605 发表于 2025-4-15 09:02:43

{:1_180:}{:1_180:}

heart小判官 发表于 2025-4-15 09:57:13

teacherli 发表于 2025-4-15 08:07
这是三十几个系列标准啊大哥

只要3、4和6:loveliness:

510389 发表于 2025-4-15 10:43:02

{:1_180:}{:1_180:}{:1_180:}

zzjazmy 发表于 2025-4-15 23:00:46

{:1_180:}

pipahuang 发表于 2025-4-16 11:36:35

{:1_180:}

sunjj 发表于 2025-4-16 13:38:04

GB∕T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检


GB∕T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）


IEC60749-6-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 6: Storage at high temperature
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