chlyan 发表于 2025-9-29 10:31:04

请教芯片的EM(elecrtomigration）可靠性测试是如何设置的

请教芯片的EM(elecrtomigration）可靠性测试是如何设置条件的，测试结果是如何写的？

Barbarossa 发表于 2025-9-29 11:19:35

我也想请教一下 芯片里的晶体管是不是随着使用时间增加会有损耗？

zhangran023 发表于 2025-9-29 11:50:04

一般是大电流+高温，具体数值根据不同器件进行设置。

gufengxxu168 发表于 2025-10-3 11:42:46

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