chlyan 发表于 2025-10-23 10:16:02

威尔分布推可靠性寿命

请教如何用威尔分布来推断芯片可靠性寿命

wzyiso 发表于 2025-10-23 11:23:01

用威布尔分布推断芯片可靠性寿命，是一个系统的工程过程：​设计加速实验 → 收集失效数据 → 用MLE等法估计威布尔参数（β， η）→ 利用加速模型换算到实际使用条件 → 计算B1寿命等关键指标。这个过程的核心价值在于，它允许制造商在不进行长达数年的真实寿命测试的情况下，​科学地、定量地预测芯片的长期可靠性，并为产品提供保修依据。

keke19880517 发表于 2025-10-23 10:45:54

同求

weewweew 发表于 2025-10-23 11:05:54

不是叫威布尔分布吗

chlyan 发表于 2025-10-23 11:31:59

wzyiso 发表于 2025-10-23 11:23
用威布尔分布推断芯片可靠性寿命，是一个系统的工程过程：​设计加速实验 → 收集失效数据 → 用MLE等法估 ...

谢谢

chlyan 发表于 2025-10-23 11:32:21

weewweew 发表于 2025-10-23 11:05
不是叫威布尔分布吗

是的:)

njkiller 发表于 2025-10-23 12:54:18

学习了

levyou 发表于 2025-10-23 13:02:03

学习了

gufengxxu168 发表于 2025-10-24 07:25:40

{:1_180:}

Sky51748 发表于 2025-10-24 07:37:55

学习了！
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