形位公差测算CPK
形位公差如何测算CPK,如同一分度圆上的多个孔相对某基准的位置度为0.1,设定控制界限时下限为0,上限为0.1?难道不是值越小越好吗?问这个问题之前,你对CPK这个概念理解怎么样? 只给上限不给下限 学习一下 单边公差只有规格上限0.1,只能算CPU,(USL-μ)/3σ 应该是算单边公差来计算Cpk的。 单边公差呀:lol 这个按照单边公差来做,CPK = MIN( (USL-μ)/3σ, (μ-LSL)/3σ ),单边公差即只考虑其一,如≥A的CPK= (μ-LSL)/3σ,≤B的CPK =(USL-μ)/3σ 学习一下 形位公差服从正态分布吗?强行算CPK意义何在?
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