cdsw 发表于 2025-11-27 13:35:56

GJB548C-2021微电子器件试验方法和程序

GJB548C-2021微电子器件试验方法和程序的全部内容里的PDA计算方式那位大神可以指教一下？

lemonkey 发表于 2025-11-27 19:35:16

{:1_180:}

mmyan 发表于 2025-11-28 09:31:03

“元器件筛选PDA”中的“PDA”全称为“批允许不合格率”（Permissible Defect Acceptance），指在电子元器件批量采购后，通过筛选试验剔除不合格品时，允许的最大不合格品比例。例如，某批次元器件经100%筛选后，若PDA要求≤5%，则不合格品占比超过5%时整批需返工或报废。

YOUNG7318 发表于 2025-11-28 09:41:58

学习一下。

lixuewei 发表于 2025-11-28 10:56:26

{:1_180:}

渊军 发表于 2025-11-28 11:56:14

学习学习

sunjj 发表于 2025-11-28 13:07:07

GJB 548C-2021，方法5004.3筛选程序中，3.5.1节
1、除另有规定外，PDA应是5%，或者是一个器件（取较大者）。
2、此外，S级的PDA应是3%或1个器件（取较大者）。
3、各批只可重新提交老炼一次，并且只当不合格品率不超过所规定的PDA的两倍或20%时（取较大者），才可重新提交。

510389 发表于 2025-11-28 13:41:48

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jamesbadi 发表于 2025-11-28 19:54:19

路过

jackshang 发表于 2025-11-29 10:19:50

不错，不错，不错！
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