chlyan 发表于 2025-12-16 15:07:30

请教存储芯片的软失效测试方法，谢谢！

软失效测试方法，请教存储芯片的软失效测试方法，谢谢！

camelzcc 发表于 2025-12-17 09:31:12

mark一下

sunjj 发表于 2025-12-17 11:54:03

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

sunjj 发表于 2025-12-17 16:42:08

GB-T4937.38-20XX 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法

chlyan 发表于 2025-12-18 08:50:16

sunjj 发表于 2025-12-17 11:54
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for ...

谢谢

chlyan 发表于 2025-12-18 08:50:32

sunjj 发表于 2025-12-17 16:42
GB-T4937.38-20XX 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
...

谢谢
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