hzpinzhi 发表于 2026-1-29 11:16:40

KGT测试

新的起点 发表于 2026-1-29 21:56:11

学习中，以后有机会一起探讨下

nanfeng36 发表于 2026-1-29 23:56:21

{:1_180:}

hkb 发表于 2026-2-6 10:43:40

你说的电路层改一下，是改了什么？钝化层、介质层、还是电路网络？不同的话，要做的验证是不同的

chlyan 发表于 2026-2-6 13:17:04

hkb 发表于 2026-2-6 10:43
你说的电路层改一下，是改了什么？钝化层、介质层、还是电路网络？不同的话，要做的验证是不同的 ...

修改了局部电路，轻微的小修改

hkb 发表于 2026-2-9 09:45:42

chlyan 发表于 2026-2-6 13:17
修改了局部电路，轻微的小修改

分不同情况，1.开发过程中的修调，一般不需要重新再做可靠性，2.量产后的修调，一般是按照衍生品处理，不属于变更

ifother 发表于 2026-2-20 12:17:39

谢谢分享

jusbe 发表于 2026-3-16 06:16:24

学习了，hkb老师的解答很清晰，区分开发中和量产后的情况确实关键。{:4_109:}
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查看完整版本: 芯片的变更的可靠性测试