chlyan
发表于 2026-5-19 09:07:33
芯片ORT测试
请教各位芯片成品一般做哪些ORT测试，客户要求做HTOL, 但是成本太大，想拒绝，有没有什么标准，谢谢
zw28670616
发表于 2026-5-19 14:34:33
谢谢
Huizhou6sigma
发表于 2026-5-20 08:56:12
1. 高温运行测试（HTOL, High Temperature Operating Life）
条件：温度125℃（工业级芯片）或更高，施加额定电压和电流。
时间：通常1000小时（参考JEDEC JESD22-A108标准）。
目的：验证芯片在高温下的长期稳定性，如漏电流（leakage current）变化。
chlyan
发表于 2026-5-20 17:47:00
:)
chlyan
发表于 2026-5-20 17:53:05
:)
chlyan
发表于 2026-5-20 18:09:59
:)
chlyan
发表于 2026-5-21 12:03:19
:)
chlyan
发表于 2026-5-21 12:03:38
:)
chlyan
发表于 2026-5-21 12:04:21
:)
ifother
发表于 2026-5-24 12:54:44
谢谢分享