IEC 62321-3-1:2026标准发布：采用X射线荧光光谱分析法(XRF)
2026年5月6日，国际电工委员会(IEC)正式发布了 IEC 62321-3-1:2026 《Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 3-1: Screening - Lead, mercury, cadmium, total chromium, total bromine, total phosphorus, total chlorine, total tin and total antimony content by X-ray fluorescence spectrometry》(《电气和电子产品中某些物质的测定 - 第3-1部分：筛选 - 利用X射线荧光光谱法测定铅、汞、镉、总铬、总溴、总磷、总氯、总锡和总锑含量》) 新版标准，全面替代旧版 IEC 62321-3-1:2013。IEC 62321-3-1:2026 作为电子电气行业RoHS符合性验证的核心筛查标准，此次更新在保持X射线荧光光谱分析法(XRF)技术框架的基础上，对筛查元素范围与分析效能进行了显著提升。
概要：IEC 62321-3-1:2026采用X射线荧光光谱分析法(XRF)，对电子电气产品均质材料中的各项元素进行筛选检测，具有快速、非破坏性以及适用于多种材料的特点，可筛查材料中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、总铬(Total Cr)、总溴(Total Br )等元素的含量，常用于电子元器件、塑料件、金属件、陶瓷材料、电线、PCB、外壳及涂层等材料的初步风险评估。
主要更新点：IEC 62321-3-1:2026相较于IEC 62321-3-1:2013版标准，新版标准在原有筛查元素基础上新增了磷(P)、氯(Cl)、锡(Sn)和锑(Sb)四种元素，从而扩展了XRF快速筛查的适用场景。这一升级可支撑除RoHS常规五项元素以外的其他限用物质筛查，例如三(2-氯乙基)磷酸酯(TCEP)、短链氯化石蜡(SCCP)、有机锡、锑铅黄等。
本次标准更新未对RoHS整机验证项目的测试流程与结果判定规则作出实质性变更，不会对原有的测试结论产生影响。
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