MSA中文版手册(第四版).pdf
附件为MSA中文版手册(第四版)，我最近想看一遍第四版手册，大家一起共同学习。遇到点小问题：大家讨论一下，
1，做量具GRR条件：测量过程处于统计受控状态且是零偏倚。问题：偏倚（含义：测量的平均值与参考值之间的差值 ）是否每做GRR量具分析时 都要看下偏倚值是否为零偏倚？
2，测量系统变异性会影响到过程能力CP值，因此有了公式：σ2观= σ2实 + σ2测问题：是否做CPK时都要这么做？
或者测得GRR＜10％ &GRR≤30％ 计算CPK值时直接按照实际值来判断？不加测量系统误差
遇到点小问题：大家讨论一下，
1，做量具GRR条件：测量过程处于统计受控状态且是零偏倚。问题：偏倚（含义：测量的平均值与参考值之间的差值 ）是否每做GRR量具分析时 都要看下偏倚值是否为零偏倚？
2，测量系统变异性会影响到过程能力CP值，因此有了公式：σ2观= σ2实 + σ2测问题：是否做CP时都要这么做？
或者测得GRR＜10％ &GRR≤30％ 计算CP值时直接按照实际值来判断？不加测量系统误差 谜团 发表于 2017-8-6 16:20
遇到点小问题：大家讨论一下，
1，做量具GRR条件：测量过程处于统计受控状态且是零偏倚。问题：偏倚（ ...
1.偏倚属于仪器校准的要求。至少我做GRR时并不会考虑这个要求，可能我对GRR的理解还比较刻板。2.GRR是表征测量系统稳定性的参数，实际是看2条：GRR和NDC（分辨力），GRR10%以下，NDC是10以上，GRR30%以下，NDC是5以上。MSA合格了，才会做SPC。 謝謝分享，我只有第三版！ 论坛能不能邀请人回答问题啊？ 感謝分享 人呢？自己顶 谢谢分享
谢谢分享 谢谢分享~！