abinwang 发表于 2023-2-10 14:21:06

{:1_89:}

huxuju 发表于 2023-7-11 08:09:02

感谢分析,楼主

flyerchang 发表于 2023-7-11 08:32:36

谢谢分享

huxuju 发表于 2023-8-8 07:50:51

非常感谢分享

feeling-z 发表于 2023-9-24 08:28:07

{:1_180:}

Knight007 发表于 2023-10-13 09:17:43

请问是否有关于芯片的相关可靠性测试(主要是MTBF)

haiquanzhou 发表于 2023-10-30 10:35:50

感谢分享

Billy008 发表于 2023-12-1 14:25:40

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jwyr1021 发表于 2024-5-29 10:13:52

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abc123xyz 发表于 2024-5-30 10:47:47

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查看完整版本: GB/T, IEC, ISO, EIA, JESD22, ASTM等常用环境与可靠性试验标准