SEM与高倍显微镜的测量
最近对SEM与高倍显微镜的测量很困惑.1. 两者都可以测量类似距离长度.
2. 两者均能放大倍率. 高倍50X,100X,200X,500X,1000X.SEM从8倍到有些能上万倍.
3. 如何评估两者的测量功能?
4. 例如很多客户说以SEM测量的数据 为准? 有没有道理?
两者的测量原理? 哪个精度(其实说精度本来就不正确)那么高?如果评估测量的数值?
谢谢分享:lol:lol 学习学习 :) 把两个的GR&R先测一下看看 :lol:lol:lol:lol 建议百度一下这两种仪器的功能、应用领域。
SEM用在断口分析,立体直观,延晶穿晶易观察、确认。氢脆特征,SEM能实现观察等等,高倍光学显微镜是平面,易受分析试样平面、操作者经验影响,操作者技能差异影响等等。
另外,SEM还能进行化学成分分析,但是没有能谱仪准确。
分析仪器,根据创新设计不同,功能不同,应用范围越来越广。
如:CT断层扫描仪、IR 红外光谱仪、拉曼光谱仪、LIBS激光诱导击穿光谱仪(是一种快速化学分析技术)、REM/EDX等等。 显微镜是切片 切的过程严重影响测量重复性 只对球的不影响 谢谢分享 {:1_180:}
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