非常全封装的DEDEC标准资料
HTOL:high temperature operating life 高温工作寿命试验HTFB:high temperature forward bias 高温正偏试验
HTRB:high temperature reverse bias 高温反偏试验
HTGB:high temperature gate bias 高温栅偏试验
1吸湿敏感度试验 (MSL)J-STD-020D
2预处理标准JESD22-A113F
3超声扫描判定标准J-STD-035D
4高压蒸煮试验 (PCT)JESD22-A102C
5温度循环试验 (TCT)JESD22-A104D
6温度循环寿命测试JESD22-A100C
7上电温度循环22A105-B
8高温储存试验 (HTST)JESD22-A103C
9高温环境条件下的工作寿命试验JESD22-A108C
10恒温恒湿试验 (THT)JESD22-A101C
11高温加速应力试验 (HAST)JESD22-A110
12不上电的高加速湿气渗透试验(unbiased HAST)JESD22-A118
13低温储存试验 (LTSL)JESD22-A119A
14管脚疲劳度试验JESD22-B105C
15易焊性试验 (Solderability)JESD22-B102E
16晶须试验JESD22A121
17跌落试验IMAPS-drop-impact-dynamic-response-2008
18压力测试判定标准JESD47G
19湿气/回流敏感表面安装器件的操作、包装、运输和使用J-STD-033
21焊球剪切试验JESD22-B117A
22热冲击试验 (TST)JESD22A106-B
23盐雾试验JESD22-A107-B
24耐焊接热试验标准JESD22-B106-B
25温湿度敏感器件的符号与标识JEP113-B
26表贴半导体器件的共面性试验JESD22-B108
{:1_89:} 謝謝分享 謝謝分享 {:1_180:} 感谢分享 {:1_180:}{:1_180:} {:1_180:}{:1_180:}{:1_180:} {:1_180:} 挺不错的,攒点钱吧,