wumyleno 发表于 2024-2-22 00:03:31

谢谢分享

jly1225 发表于 2024-2-22 08:54:30

{:1_180:}

jwyr1021 发表于 2024-5-8 13:04:22

謝謝分享

Jimmy 发表于 2025-5-15 10:53:07

感谢分享

requery 发表于 2025-10-24 17:30:07

三篇论文,不是很好用

新的起点 发表于 2026-1-18 16:07:08

下载了。近期也准备搭建一套可靠性评估和测试系统,从工艺可靠性、晶圆可靠性、芯片可靠性和模组可靠性来实现其监控和测试,确保可靠性OK,同时发现工艺中的不足,持续优化。目前还在进行中。

nanfeng36 发表于 2026-1-19 12:27:22

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xiang129 发表于 2026-1-21 05:57:13

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nanfeng36 发表于 2026-7-9 23:48:58

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查看完整版本: 可靠性试验中三大加速模型的研究与应用 + 加速寿命试验