shi0651 发表于 2024-7-16 09:05:32

{:1_180:}

kellyz 发表于 2024-7-16 09:13:37

谢谢分享

emma1994 发表于 2024-7-16 09:50:41

假设你使用校准块，测量次数接近30次
1. 本身公差很小，要求测量精度很高。偏倚就占了20%-30%，还需要调整。
2. 标准块的问题，设备调试的问题，人员的问题？

wenzhu712 发表于 2024-7-16 11:03:41

了解一下

leaper 发表于 2024-7-16 11:11:07

看不明白。参考控制图异常判定口诀：1出界，23A，45B, 6连串， 14上下交替， 8个点落在一侧且C区外，15个点在平均值两侧且C区

kakarabbit 发表于 2024-7-16 11:30:31

不懂，..

shizhikai0905 发表于 2024-7-16 12:45:11

Cg/Cgk是评估一个检测设备的测量能力是否满足被测质量特性的公差要求相匹配的方法。
主要用来评估量具内部的变差对整个公差带的影响。

大只努力 发表于 2024-7-16 13:20:06

:o:o

32981553 发表于 2024-7-16 15:02:53

:L:L:L:L

tryma 发表于 2024-7-16 18:59:18

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查看完整版本: 设备测试能力探讨-Cgk