Laney P' 控制图类似于传统 P 控制图。这两种控制图都有助于监控您的过程产生的缺陷项的比率。Laney P' 控制图在以下情况下很有用：

·    您有较大的子组，并且数据表现出过度离散。

过度离散会导致传统 P 控制图上的点看起来似乎要失控，而实际上并非如此。对于 Laney P' 控制图，常见原因变异的定义不仅包含子组内变异，还包含子组间的平均变异。如果存在过度离散情况，则 Laney P' 控制图上的控制限制比传统 P 控制图的控制限制更宽。更宽的控制限制意味着只将过程中的重大偏差识别为失控。

·    您的数据表现出欠离散。

欠离散会出现在任何大小的子组中，通常由缺乏随机性导致。欠离散会导致数据的控制限制太宽。通过计算更窄的控制限制，Laney P' 控制图可以更正欠离散问题。

您可以使用 P 控制图诊断来检验过度离散和欠离散情况。

Laney P' 控制图的计算包括西格玛 Z，这是用于过度离散和欠离散的调整系数。西格玛 Z 值等于 1 时，指示不需要进行任何调整，因而 Laney P' 控制图与传统 P 控制图完全一样。

一家小型医院的病历管理人员提高了病历的准确性和完整性。为了保持持续改进，这些工作人员跟踪每天填写的不完整和不准确病历数。

病历数量较大，平均子组大小超过 2500。这些数据表现出较大数量的过度离散（请参见 P 控制图诊断）。工作人员决定使用 Laney P' 控制图（而不使用传统 P 控制图）来监控病历。

数据：缺陷记录.MTW（在样本数据文件夹中）。