EASEN
发表于 2024-6-6 09:01:22
{:1_89:}
Billy008
发表于 2024-6-24 20:09:22
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a赵999
发表于 2024-6-25 08:50:20
谢谢分享
mapleafcool
发表于 2024-6-25 09:53:49
感谢分享
如风lucky
发表于 2024-8-28 17:58:00
AOI是不是很贵?像键盘的电路板得用多少钱的
zzjazmy
发表于 2024-8-28 22:56:13
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涂建明
发表于 2024-8-29 08:58:53
{:1_180:}
WJHUA
发表于 2024-10-15 19:28:26
本帖最后由 WJHUA 于 2024-10-15 19:34 编辑
hilbertzhang 发表于 2020-8-14 10:18
请问疲劳测试与老化测试的具体区别是什么,除了一个是抽测一个是全测外。我看两个都是长时间通电工作进行测 ...
理解不知道是否正确,请指教。
老化测试更像是筛选试验按我们的浴盆曲线理解,电子产品如有失效大功率可以在早期发现;通过2~8小时的通电,使得存在缺陷的器件暴露,及时筛选不良出来。
而疲劳试验,则类似极限挑战,尽量把器件产品的极限情况摸出来,比如设定极限的环境参数(电/磁/温/湿等),看看最长时间的失效;再进行调整评估和补强,同时也能掌握产品的质量裕度数据。
yufei0521
发表于 前天 11:57
谢谢。