请教Minitab CPK图形判定方法
我有一个问题想请教下各位，我们目前有一款产品直径尺寸是Φ8.2±0.1,此尺寸要求用针规计算CPK，我们选用的针规间隔为0.005mm针规测的，数量125件，现在用Minitab软件计算的，现CPK为2.82，满足客户大于1.67的要求，但是P值小于0.05，且能力直方图形不是很正态（见下图示）。现在我们的客户要求我们使用0.001间隔的针规去检测来满足P值大于0.05，我们的理解是按照量具十分之一的原则选用了0.005针规是满足客户要求，且CPK值大于客户要求，那么不需要按照0.001间隔的来买，因为这样成本太高，且买回来后实际不会使用，只是为了CPK验证有点品质过剩。这样解释客户还是不接受， 请问客户的要求合理吗？有标准中规定CPK大于1.67后还需保证P值大于0.05吗？谢谢！1、首先，既然是客户，要求也不犯法，那么当然合理，毋庸置疑！
2、P值大于0.05，这个是分析正态分布的常用判定标准，值可以变动的，风险不同罢了，但通常要符合顾客要求，你懂了吧。3、针规，通常是“计数型”量具，如：0.1mm的针规，能通过就是内径大于0.1mm，不能通过就是内径小于0.1mm，一般不能作为“计量性”使用，尽管间隔足够小时，精度也很高；考虑使用影像仪吧，可以考虑委外测试。
4、十分之一的原则是量具选择的参考依据，并不是判定是否适用的原则，应当做MSA分析，来确定测量系统的能力。你看数据，控制限范围（上-下）约为：0.01，你的量规精度为：0.005，做产品验收时，精度和规格公差比较，满足1/10原则，但做过程能力分析时，精度需要和控制限范围比较，都不到1/2，你认为还行吗？显然，测量仪器不行的。0.001的针规也许可以。
5、CP、CPK、PP、PPK所代表的含义，这个去工具上学习吧。
6、怎么判定SPC分析结果是否合格？（不叫CPK图哦）
1、P值合格，按客户要求来，一般默认为0.05；
2、测量系统分析结果合格；（这个判定看工具书）
3、CPK≧1.33(已经量产，认为生产属于受控)；PPK≧1.67（试生产时，不确定生产是否受控，量产可能更差，所以要求就高了一个西格玛水平）要求来自于PPAP工具书。
4、CP与CPK，PP与PPK，比较相近，通常认为差0.33（差了1个西格玛）就比较大了，即规格均值与实际均值差距不大，你这数据，均值中心差太远了，需要改！
5、过程受控，看控制图，也就是均值图和极差图，不能超控制限，连续7点上升、下降或同边都不可以，中间1/3的区域包含2/3的点；满意这3个条件，控制就是受控的。
过程受控才能计算cpk，计量型过程受控就是要过程数据呈正态分布，你的p＜0.05说明不是正态，所以cpk没有意义。所以你客户的要求是非常合理的。
再看你Xbar数据，UCL-LCL≈0.011，仪器分辨率0.005，相当于你只有3个读数。你理解错了1/10比例的含义，它是过程变差的1/10,而不是公差的1/10，所以你的仪器分辨率确实是不够的。
我的理解，如下
1. 你的数据不符合正态分布，所以Cpk的确是没有意义的，建议先做数据分布分析；
2. 如果不符合正态分布，的确可能因为分辨率不足，可能需要进行数据转换，也有可能是因为有其他干扰因素；
3. 稳定性分析，其实可以用秩检验，不应该要用Cpk来实现。 请出示原数据。
同意二楼的 我们在获得数据的时候，首先需要检验数据的正态性，如果数据不服从正态分布是不可以计算CPK的，这个时候需要分析数据为什么不正态。在你的案例中，可以看到极差图只有四种数据点，说明你的量具分辨率不够（这一点从你的正态概率图也可以看得出来），需要改善量具的分辨率。当数据符合正态性以后，我们还需要画控制图，看一下过程是否受控。只有在过程受控的前提下我们才可以计算CPK。总结一下，首先数据必须符合正态性，再者过程受控，这个时候计算出来的CPK才是可靠的。切忌一拿到数据以后直接计算CPK。 虽然没看到原始数据，但是通过你描述的公差全距、量具精度以及六合图来看，你的数据过于集中在某个数值了，导致数据不符合正态分布，先查看一下你的数据抽样原则是不是符合要求的，再就是有没有异常影响或者变异点，如果上述都正常，那就只有采用精度更好的仪器了，让太集中的某个数据分散开。
或者就只有数据优化了，按照现在的CPK值和均值，minitab拟合125个符合正态的数据--此方法慎重 学习了 謝謝分享.... :lol 謝謝分享....