品质就是一切
发表于 2021-5-18 13:52:47
AEC-Q100-Rev-G《基于集成电路应力测试认证的失效机理》
分享一个车规芯片可靠性规范，AEC-Q100-Rev-G《基于集成电路应力测试认证的失效机理》 May 14 2007
本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效， 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。
hu252001
发表于 2021-5-18 16:03:33
謝謝分享~真香
TBD16888
发表于 2021-5-19 00:20:24
谢谢分享!
pdcicbt
发表于 2021-5-19 06:23:30
謝謝分享
golfgti
发表于 2021-5-19 06:25:23
謝謝分享
2017yuan
发表于 2021-5-19 07:55:23
感谢分享！
billye
发表于 2021-5-19 08:16:04
謝謝分享
叶太平
发表于 2021-5-19 08:19:19
謝謝分享
Tiger-1
发表于 2021-5-19 09:11:54
{:1_89:}
zileo0617
发表于 2021-5-19 10:27:40
:handshake