AEC-Q100-Rev-G《基于集成电路应力测试认证的失效机理》

品质就是一切 · 发表于 2021-5-18 13:52:47

分享一个车规芯片可靠性规范，AEC-Q100-Rev-G《基于集成电路应力测试认证的失效机理》 May 14 2007

本文件包括了一系列应力测试失效机理、最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效，目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。

hu252001 · 发表于 2021-5-18 16:03:33

謝謝分享~真香

TBD16888 · 发表于 2021-5-19 00:20:24

谢谢分享!

pdcicbt · 发表于 2021-5-19 06:23:30

謝謝分享

golfgti · 发表于 2021-5-19 06:25:23

謝謝分享

2017yuan · 发表于 2021-5-19 07:55:23

感谢分享！

billye · 发表于 2021-5-19 08:16:04

謝謝分享

叶太平 · 发表于 2021-5-19 08:19:19

謝謝分享

Tiger-1 · 发表于 2021-5-19 09:11:54

zileo0617 · 发表于 2021-5-19 10:27:40

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