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AEC-Q100-Rev-G《基于集成电路应力测试认证的失效机理》

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精华

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发表于 2021-5-18 13:52:47 | 显示全部楼层 |阅读模式
分享一个车规芯片可靠性规范,AEC-Q100-Rev-G《基于集成电路应力测试认证的失效机理》 May 14 2007

文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效, 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。

AEC-Q100-G-中文版.pdf

754.41 KB, 下载次数: 212

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精华

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九品芝麻官
发表于 2021-5-18 16:03:33 | 显示全部楼层
謝謝分享~真香
龍年大吉
別對每件事情都有反應
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