cl9688 发表于 2025-3-17 15:54:35

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cl9688 发表于 2025-3-17 15:57:31

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cl9688 发表于 2025-3-17 15:58:35

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cl9688 发表于 2025-3-17 15:59:17

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kamire 发表于 2025-3-17 19:47:19

weareone59 发表于 2025-3-17 15:42
请问我们只用这个看外观 每次使用前用挑战件进行验证 然后做kappa这样的话可以不做年度校验吗 ...

不行的。测量系统分析和校准是两个不同的概念，同时，自己內校的方式也要做到能够溯源

MrWu 发表于 2025-3-18 08:01:41

学习

weareone59 发表于 2025-3-18 14:14:45

kamire 发表于 2025-3-17 19:47
不行的。测量系统分析和校准是两个不同的概念，同时，自己內校的方式也要做到能够溯源 ...

请问要内校的话是按你发的文件上的方式吗 第一次接触这个CCD

xxw131 发表于 2025-3-18 15:47:30

weareone59 发表于 2025-3-17 15:42
请问我们只用这个看外观 每次使用前用挑战件进行验证 然后做kappa这样的话可以不做年度校验吗 ...

我认为可以，主要看用于什么目的和用途。没有量值传递的情况，我觉得内部可以保证就没问题，看客户要求。校准本身就是自愿行为。

kamire 发表于 2025-3-18 16:42:37

xxw131 发表于 2025-3-18 15:47
我认为可以，主要看用于什么目的和用途。没有量值传递的情况，我觉得内部可以保证就没问题，看客户要求。 ...

随意，开心就好

kamire 发表于 2025-3-18 17:07:11

weareone59 发表于 2025-3-18 14:14
请问要内校的话是按你发的文件上的方式吗 第一次接触这个CCD

如果你们只用到外观检验的功能，那么你们內校只按照文件中校准外观检验的部分就可以了。

需要注意的是，校准以及测量溯源并不是所谓的自愿要求，这是ISO里面的明确要求，当然如果你们公司连ISO都没过，那确实是自愿要求。
你的问题不是一个新问题，也不是什么需要讨论谁觉得可以，谁觉得不可以的问题，这是有标准答案的问题。
余下的就是你们要不要去做而已
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查看完整版本: CCD需不需做校准