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shishaolin1123 发表于 2018-4-29 10:52 15. 假定某晶片生产过程检测发现晶片的 DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片 ...
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发表于 2022-8-10 19:50:08
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