X 和 S 控制图概述 操作步骤 示例 数据 另请参见
X 和 S 控制图统计 > 控制图 > 子组的变量控制图 > Xbar-S
在同一个图形窗口中显示子组均值控制图（X 控制图）和子组标准差控制图（S 控制图）。X 控制图绘制在屏幕的上半部分，S 控制图绘制在下半部分。通过同时查看这两个控制图，可以同时跟踪过程水平和过程变异，以及检测是否存在特殊原因。有关如何解释这两个控制图中的联合模式的讨论，请参见 [32]。
X 和 S 控制图通常用于跟踪大小为 9 或更大的样本的过程变异，而 X 和 R 控制图用于较小的样本。
默认情况下，Minitab 的 X 和 S 控制图命令根据子组标准差的平均值来估计过程变异 s。您还可以使用合并标准差，或输入 s 的历史值。
有关详细信息，请参见控制图概述和子组的变量控制图概述。
图表的所有观测值均在一列中：如果数据在一列或多列中，请选择此项，然后输入列。
子组大小： 输入下标的编号或列。如果子组大小不等，则每个控制限制都不是一条直线，而是因子组大小而异。如果子组大小变化不大，您可能要通过使用 Xbar-S 选项 > 限制指定固定的子组大小来强制控制限制固定不变。
子组的观测值位于多列的同一行中：如果子组排列在跨多列的行中，请选择此项，然后输入列。