请教各位：离子污染测试数据SPC问题

阿柯

请教各位大佬同仁：目前离子污染测试数据为非正态数据，怎么跑SPC图以及计算CPK

ldt2008

非正态CPK计算
可使用百分位数法计算CPK：

CPK=

min(第99.865百分位数−中位数USL−中位数​,中位数−第0.135百分位数中位数−LSL​)

1、实施步骤
数据收集：确保数据量足够。
数据分析：检查数据分布，确定是否非正态。
选择方法：根据数据特性选择合适的方法。
计算控制限：使用选定的方法计算控制限。
绘制SPC图：绘制控制图并监控过程。

2、计算CPK：使用适当方法计算CPK。

3、注意事项
数据量：确保数据量足够，避免误差。
方法验证：验证所选方法是否适合数据。
持续监控：定期更新控制限和CPK，确保过程稳定

ldt2008

以下是使用百分位数法计算非正态数据CPK的案例。
案例背景
假设某制造过程的上规格限（USL）为100，下规格限（LSL）为50。收集了100个数据点，数据分布非正态，需计算CPK。
一、数据示例
假设数据如下（仅示例，实际数据更多）：
[55,58,60,62,65,68,70,72,75,78,80,82,85,88,90,92,95,98,100,102]

二、步骤
1. 计算中位数
将数据排序后，中位数为第50百分位数。对于100个数据点，中位数是第50和第51个数据的平均值。
假设中位数 = 75

2. 计算第99.865百分位数和第0.135百分位数
第99.865百分位数：100 × 0.99865 ≈ 第99.865个数据点（近似第100个）。
第0.135百分位数：100 × 0.00135 ≈ 第0.135个数据点（近似第1个）。
假设：第99.865百分位数 = 102。  第0.135百分位数 = 55

3. 计算CPK
使用公式：CPK=min【(USL−中位数）/（第99.865百分位数−中位数）,（中位数−LSL）/(中位数−第0.135百分位数)】
代入数值：CPK=min【(100−75）/(102−75),(75−50)/(75−55)】
​CPK=min(0.926,1.25)
CPK=0.926

4、结果

CPK值为 0.926，表明过程能力不足，需改进。

注意事项
    数据量：数据量越大，百分位数估计越准确。
    分布特性：若数据分布复杂，需结合其他方法分析。
    过程改进：低CPK值提示需优化过程，减少变异。

通过百分位数法，可以在非正态数据下有效评估过程能力。

flyerchang

ldt2008 发表于 2025-2-8 15:42
以下是使用百分位数法计算非正态数据CPK的案例。
案例背景
假设某制造过程的上规格限（USL）为100，下规格 ...

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