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湿敏器件控制

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品质协会主任会员

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发表于 2017-8-3 16:21:48 | 显示全部楼层 |阅读模式
受潮的湿敏器件在过回流焊高温作用下会发生爆米花、压力损伤等现象,后者比较隐蔽,可以在成品一段时间后显现,所以相较爆米花现象,这种损伤后果更严重。
参照IPCJEDEC J-STD-033B.1,MSD湿敏器件干燥方法有:
1. 150℃高温烘干
2. 125℃高温烘干
3. 40~90℃;≤5%RH中温超低湿烘干
4. 常温超低湿干燥

以上干燥方法粗略比较如下:
1. 150℃高温烘干虽然耗时最短,但对器件损伤大,氧化速度也最快;
2. 125℃烘干时间较短,但也存在类似150℃的问题;
3. 40~90℃,5%RH对器件几乎没有损伤,且氧化情况也可以被忽略,同时适合不耐高温的MSD(如卷、管状料等),所需时间虽然长于两者,但尚在可接受范围;
4. 传统的常温干燥箱由于所需时间长,一般用于保存,不用于烘干。
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