品质协会(www.PinZhi.org)

 找回密码
 加入协会

QQ登录

只需一步,快速开始

高温高湿等老化测试设备 UV紫外线老化测试设备 盐雾测试设备 拉力测试仪 MFR熔融指数测试仪 IP防尘防水测试仪器 GB∕T 2423全套标准
12
返回列表 发新帖
楼主: 童童会长

半导体封装的可靠性问题

[复制链接]

14

主题

64

回帖

0

精华

品质协会中级会员

Rank: 3Rank: 3

积分
1620
品质币
1542
职位
18
发表于 2021-8-2 17:32:13 | 显示全部楼层
Micro sd因为不涉及到SMT或温度骤变的环境,个人觉得不需要考虑MSL。如果因为环境剖面涉及到这块,可以对样品做潮敏器件定级试验,这个是有标准的,请参考《IPC/JEDEC J-STD-020E》
1. 问答、交流探讨的帖子,回帖时,请不要发纯表情等无价值回帖,无意义,太多了影响用户体验,经常这样账号会被扣分甚至禁号的;
2. 品质协会是个学习、交流分享的平台,所有资料和内容归作者和版权方所有,需要正版标准、资料的请去相关的官方网站等平台购买。

67

主题

6万

回帖

5

精华

品质大师

Rank: 12Rank: 12Rank: 12

积分
124028
品质币
60087
职位
19
居住地
江苏省 无锡市
发表于 2021-8-9 09:43:48 | 显示全部楼层
卓尔游侠 发表于 2020-2-19 12:50
IC封装流程一般都会有除湿工序,  湿度影响会出现进行性的不良~

谢谢分享

67

主题

6万

回帖

5

精华

品质大师

Rank: 12Rank: 12Rank: 12

积分
124028
品质币
60087
职位
22
居住地
江苏省 无锡市
发表于 2024-1-3 11:05:38 | 显示全部楼层
卓尔游侠 发表于 2020-2-19 12:50
IC封装流程一般都会有除湿工序,  湿度影响会出现进行性的不良~

谢谢分享
您需要登录后才可以回帖 登录 | 加入协会

本版积分规则

《品质协会规则》|品质币|手机版|品质B2B|联系我们|注册加入协会|品质协会(www.PinZhi.org) |网站地图

GMT+8, 2024-12-4 01:41 , Processed in 0.027638 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

Powered by 品质协会 © 2010-2024

品质人,让生活和环境变得更美好!!!

快速回复 返回顶部 返回列表