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半导体封装的可靠性问题

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发表于 2020-2-18 20:20:26 | 显示全部楼层 |阅读模式
我心中有个问题,请问内存卡Micro sd的封装形式是LGA,由于后续不需要SMT生产,做可靠性测试时一般不做Precon。可是不做precon怎么确认封装的Moisture sensetivity level?还是不需要管MSL?包装储存时间怎么确定啊

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发表于 2021-8-2 17:32:13 | 显示全部楼层
Micro sd因为不涉及到SMT或温度骤变的环境,个人觉得不需要考虑MSL。如果因为环境剖面涉及到这块,可以对样品做潮敏器件定级试验,这个是有标准的,请参考《IPC/JEDEC J-STD-020E》

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发表于 2024-1-3 11:05:38 | 显示全部楼层
卓尔游侠 发表于 2020-2-19 12:50
IC封装流程一般都会有除湿工序,  湿度影响会出现进行性的不良~

谢谢分享

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发表于 2021-8-9 09:43:48 | 显示全部楼层
卓尔游侠 发表于 2020-2-19 12:50
IC封装流程一般都会有除湿工序,  湿度影响会出现进行性的不良~

谢谢分享

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发表于 2020-2-19 12:50:25 | 显示全部楼层
IC封装流程一般都会有除湿工序,  湿度影响会出现进行性的不良~   

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发表于 2020-12-3 17:40:04 | 显示全部楼层
不需要进SMT流程的东西,你想让他干嘛呢?
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