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IEC 62044-3:2023 《第3部分:高激发水平下的磁性》

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发表于 2023-8-11 19:22:02 | 显示全部楼层 |阅读模式
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分类: 电子电气&数码家电(IT)
2023年7月7日,国际电工委员会发布标准《软磁材料制磁芯——测量方法——第3部分:高激发水平下的磁性》。

IEC 62044-3:2023可看作包含国际标准及其红线版本的IEC 62044-3:2023 RLV使用,与前一版本相比说明了技术内容的所有变化。IEC 62044-3:2023规定了形成封闭磁路的磁芯的功率损耗和磁导率幅值的测量方法,该磁路用于电力电子应用中的电感器、扼流圈、变压器和类似设备的高激发水平。第二版取消并取代了2000年出版的第一版。本版为技术修订版。与前一版本相比,本版本包括以下重大技术变化:增加了附件F和附件G。

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