Laney P' 控制图概述 操作步骤 示例 数据 另请参见
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Laney P' 控制图类似于传统 P 控制图。这两种控制图都有助于监控您的过程产生的缺陷项的比率。Laney P' 控制图在以下情况下很有用：
过度离散会导致传统 P 控制图上的点看起来似乎要失控，而实际上并非如此。对于 Laney P' 控制图，常见原因变异的定义不仅包含子组内变异，还包含连续的子组之间的平均变异。如果存在过度离散情况，则 Laney P' 控制图上的控制限制比传统 P 控制图的控制限制更宽。更宽的控制限制意味着只将过程中的重大偏差识别为失控。
欠离散会出现在任何大小的子组中，通常由缺乏随机性导致。欠离散会导致数据的控制限制太宽。通过计算更窄的控制限制，Laney P' 控制图可以更正欠离散问题。
您可以使用 P 控制图诊断来检验过度离散和欠离散情况。
Laney P' 控制图的计算包括西格玛 Z，这是用于过度离散和欠离散的调整系数。西格玛 Z 值等于 1 时，指示不需要进行任何调整，因而 Laney P' 控制图与传统 P 控制图完全一样。
有关 Laney P' 控制图的详细说明，请参见 [8]。
变量：输入包含每个子组的缺陷品数的列。
子组大小：输入数字或包含子组大小的列。如果子组大小不等，则每个控制限制都不是一条直线，而是会随子组大小的改变而改变。如果子组大小变化不大，则您可以设置恒定的子组大小，以便控制限制保持恒定不变。要为您的控制图设置恒定的子组大小，请使用 P' 控制图选项 > 限制。