属性控制图概述
另请参见 

属性控制图结构上类似于变量控制图，只不过它们是根据计数数据而不是测量数据标绘统计图。例如，可将产品与标准进行比较，并将其归类为缺陷品或非缺陷品。也可以根据产品的缺陷数对产品归类。

与使用变量控制图一样，绘制过程统计量（如缺陷数）也是相对于样本数量或时间的。Minitab 会在针对图上所标时间绘制的统计量的平均值处画一条中心线。默认情况下，Minitab 还会标绘其他两条线（- 控制限制的上限和下限），它们位于中心线 上方和下方的 3s 处。

缺陷品控制图

您可以将产品与标准进行比较，并将其归类为有缺陷产品或无缺陷产品。例如，线长是否满足强度要求。缺陷品控制图有：

·    P 控制图，标绘每个子组中缺陷品的比率

·    Laney P' 控制图，标绘每个子组中缺陷品的比率，同时更正过度离散或欠离散情况。

·    NP 控制图，标绘每个子组中缺陷品的数量

有关这些控制图的详细说明，请参见 [1]、[3]、[7]、[8]、[10]、[11] 和 [12]。

缺陷控制图

如果产品非常复杂，则某一缺陷并不一定会导致缺陷产品。根据产品的缺陷数将产品归类有时会更加方便。例如，您可以统计器具表面的划痕数。缺陷控制图有：

·    U 控制图，标绘在每个子组中抽取的每单位样本的缺陷数。当子组大小不固定时，请使用 U 控制图。

·    Laney U' 控制图，标绘每个子组中抽取的每单位样本的缺陷数，同时更正过度离散或欠离散情况。

·    C 控制图，标绘每个子组中的缺陷数。当子组大小固定时，请使用 C 控制图。

例如，如果您要统计电视屏幕内表面的瑕疵数，C 控制图将标绘实际瑕疵数，而 U 控制图或 Laney U' 控制图将标绘所抽取样本中每平方英寸的瑕疵数。

有关这些控制图的详细说明，请参见 [1]、[3]、[7]、[8]、[10]、[11] 和 [12]。