Minitab 提供了若干命令帮助您确定有多少过程变异是由测量系统中的变异造成的。
类型 1 量具研究是一个很好的出发点,它可以评估测量系统的能力。此研究使用来自单个部件的多个测量值来评估偏倚和重复性的效应,且是在量具 R&R(扩展)、量具 R&R(交叉)和量具 R&R(嵌套)研究之前进行,后三者有助于发现测量系统中的缺陷。为帮助设置量具 R&R(交叉)或(嵌套)研究的工作表,请使用创建量具 R&R 研究工作表。
其他命令包括:
注意 |
属性一致性分析以前在 Minitab Release 13 中称为属性量具 R&R 研究。属性一致性分析是评估检验员一致性的技术,它不同于属性量具研究(分析法),后者检查属性测量系统的偏倚和重复性。 |
每次测量过程的结果都会发现变异。产生这种变异有两个来源:过程制造的部件之间的差异,以及进行测量中的不完善。因此,重复测量相同部件也不会得到完全相同的测量值。
统计过程控制 (SPC) 涉及到确认部件间变异的来源,以及尽可能减少这种变异以获得更可靠的产品。但是,在执行 SPC 分析之前,可能要确定观测到的变异并非主要归因于测量系统中的误差。
测量系统误差可分为两类:准确度和精确度。
在任何测量系统中,都可能会出现这些问题的其中之一或二者都出现。例如,某设备可能测量部件时很精确(测量值中的变异很小),但不够准确。另一个设备可能很准确(测量值的平均值非常接近准确值),但不够精确,即测量值的方差很大。还可能有另一个设备既不准确也不精确。
准确且精确 |
精确但不准确 |
准确但不精确 |
既不准确也不精确 |
测量系统的准确度通常分为三个要素:
要检查测量系统的准确度,请参见量具线性和偏倚研究。
精确度(即测量变异)可分为两个要素:
要查看测量系统的精确度,请参见量具 R&R(扩展)、量具 R&R(交叉)或量具 R&R(嵌套)。
要按操作员/部件组合查看所有测量值的图,进而直观地表示测量值变异的重复性和再现性要素,请参见量具运行图。
要同时查看属性测量系统中的偏倚和重复性,请参见属性量具研究(分析法)。