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求指点,MSA-测量系统中被测的产品可否为量具?

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发表于 2023-9-15 10:44:20 | 显示全部楼层 |阅读模式
各位朋友,本人学习MSA,对测量系统中量具的概念理解不好,工作遇到一个难题欢迎探讨。

MSA手册对量具的定义为,是指任何用来获得测量的装置。经常是用在工厂现场的装置,包括通/止规(Go/No go device)
重复性定义:由同一个操作者,采用同一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值的变差。(四同)
再现性定义:由不同的操作者,采用同一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值的变差。(三同一异)
均值极差法会取10个产品由3名评价人随机测量三轮产品输出90个数据。

有一道工序,检测产品的激光测距能力,有离测量点30m远的标靶,产品对标靶发射激光接收反射的激光再计算距离输出数值。

我不认为这个工序可以做GRR-均值极差法分析,在这个测量系统中,接受和输出信息的是产品本身,30m的标靶可以作为标准。每pcs产品检测的得到的信息是产品本身。如果产品本身是量具,在本次测量里有10个量具,无法计算重复性和再现性

公司有另外的观点,将标靶视为量具,被测特性为产品的测距能力。比方:校准卡尺使用标准块对卡尺测量,卡尺在这里扮演被测零件,校准的标准块是量具。同理标靶视为量具,产品视为被测零件。一个量具测10个零件可以使用均值极差法分析计算GRR。


请教,测量系统中的量具是否与被测零件是独立的,校准的概念能否和测量系统分析混在一起?


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发表于 2023-9-15 11:22:42 | 显示全部楼层
这个是蛮有意思的问题。在这里,你们的激光测距设备是产品,标靶包括这个30m这个距离包括测量的方式是量测系统。我看了JJF1324校准规范,似乎没有要求标靶要能够能够溯源。

我们做测量系统分析,是分析测量系统引入的变差在总变差里面所占的比例,理想状态是越低越好。总变差是你“观测到的”总过程变差,是由零件的变差PV加上量测设备变差得到的。这里的零件变差PV是指你取样多个零件之间的变差,而对于同一个零件而言,是默认其被测量特性的真值是恒定不变的,否则,你就无法区分零件的变异是PV还是这个零件的特性一直在变化造成的。回到你的问题,你可以分析一下你们测量结果变异的来源。标靶的距离我假设插在地上就不会改变了,但是你摆放产品(测距仪)的时候,是不是会引入一个距离的变异-你每次看起来是摆在同一位置了,而实际上肯定有差,这就是测量方法引入的变差,也就是测量系统变差的一部分。再分析零件,你可以验证一下,将每个测距仪固定在同一位置固定死,然后单纯的按按钮读数,多次测量以后看看这个变异是多少,这样做是要验证单个零件的特性会不会由变化,如果这个变异非常非常小,那么你可以认为单个零件特性不存在变异,你可以按照一般的GRR方式去做,如果这个变异足够大,那么你只能按照嵌套试验的方式进行分析。

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 楼主| 发表于 2023-9-15 11:47:17 | 显示全部楼层
kamire 发表于 2023-9-15 11:22
这个是蛮有意思的问题。在这里,你们的激光测距设备是产品,标靶包括这个30m这个距离包括测量的方式是量测 ...

是的,标靶不能校准追溯,所以公司在摆放产品的夹具旁增加了激光测距仪,激光测距仪已通过第三方具有CNSA资质实验室校准。
感谢,您的意见。

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发表于 2023-9-15 12:01:47 | 显示全部楼层
你这个问题,让我想起了使用直准仪的测量直线度或平面度

你的产品是激光仪,靶标是测量系统的一部分,但是现在看起来,你的测量系统本身不太合理。靶标和产品间是不稳定的系统。所以首先应对测量系统进行改造,使之能做到 将激光仪(产品)定位并瞄准靶标的同一位置、距离,确保初始状态的稳定。我建议模拟直准仪测量的方法,做一组30M长的固定架子(其精度要能校正)。再用它去确认不同的激光仪(产品),这样采用收集不同产品的精准度数据。

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 楼主| 发表于 2023-9-15 12:04:29 | 显示全部楼层
imjohnson 发表于 2023-9-15 12:01
你这个问题,让我想起了使用直准仪的测量直线度或平面度

你的产品是激光仪,靶标是测量系统的一部分,但是 ...

感谢,您的意见,谢谢。

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发表于 2023-9-16 08:28:18 | 显示全部楼层
kamire 发表于 2023-9-15 11:22
这个是蛮有意思的问题。在这里,你们的激光测距设备是产品,标靶包括这个30m这个距离包括测量的方式是量测 ...

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