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IEC 63287-1-2021 Semiconductor devices – Generic semiconductor qualificatio...

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IEC 63287-1-2021 《Semiconductor devices – Generic semiconductor qualification guidelines – Part 1: Guidelines for IC reliability qualification》 文件比较大,35MB, 放在阿里云盘。

IEC 63287-2:2023 《Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile》

https://www.pinzhi.org/thread-99693-1-1.html

IEC 63287-1-2021.zip

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IEC 63287-1-2021

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