二极管、三极管等半导体器件损坏的特点

张康阳 · 发表于 2017-12-7 07:22:00

三极管的损坏一般是PN结击穿或开路，其中以击穿短路居多。

此外还有两种损坏表现：

一是热稳定性变差，表现为开机时正常，工作一段时间后，发生软击穿；

另一种是PN结的特性变差，用万用表R×1k测，各PN结均正常，但上机后不能正常工作，如果用R×10或R×1低量程档测，就会发现其PN结正向阻值比正常值大。

测量二、三极管可以用指针万用表在路测量，较准确的方法是：

将万用表置R×10或R×1档(一般用R×10档，不明显时再用R×1档)在路测二、三极管的PN结正、反向电阻，如果正向电阻不太大(相对正常值)，反向电阻足够大(相对正向值)，表明该PN结正常，反之就值得怀疑，需焊下后再测。这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上，用万用表低阻值档在路测量，可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。

勿忘我 · 发表于 2018-1-14 23:36:35

万能表测量常用呢。

叶平 · 发表于 2017-12-7 08:00:54

谢谢分享。。。

谢荣 · 发表于 2017-12-7 09:44:10

涂建明 · 发表于 2017-12-7 17:32:44

magic362 · 发表于 2017-12-29 16:50:48

daobao911 · 发表于 2018-1-4 13:58:51

谢谢分享

lm735746330 · 发表于 2018-1-15 11:48:33

HPPSQX · 发表于 2018-9-19 15:21:10

c3337859 · 发表于 2018-9-20 09:19:04

谢谢分享！！！！！

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