这种情况适合MSA哪种特性分析？求！！

samsong

现象：芯片单体的电压规格-3.3+/-2% V ,  设备测试的实际结果有超出规格的，比如：3.368V，3.371V。
问题: 设备测量控制的规格值也是3.3+/-2%V
分析：
1.本身这个设备定义的测试规格就不合理，原因判断如下：
total(观测值误差值)=产品观测误差值+设备观测误差值
我的理解是：产品观测误差值=芯片单体误差+其形成的线路误差
                     设备观测误差值=软件误差+硬件误差

我的疑问：
1.不知我上面的判断对不对
2.我拿到了实际测试（5/1~5/11）数据，我想通过这11天的数据，用MSA 去分析（设备观测误差值=软件误差+硬件误差）不知是否可行？
3.若可行，我想从稳定性和偏倚性分析着手，不知对不对？

洪筱絲

vincent_ting

建议你先做个G R&R，从你的描述来看有可能NDC都不足。

稳定性可以做，但是偏倚就不用了，因为你的真实值还是要通过这个设备多次测量平均。

lurenjia2011050

设备测量的范围小了

saim

samsong

vincent_ting 发表于 2018-6-12 08:22
建议你先做个G R&R，从你的描述来看有可能NDC都不足。

稳定性可以做，但是偏倚就不用了，因为你的真实值还 ...

从目前我收集到的这些数据来看，是不是做稳定性分析较为妥当？

samsong

lurenjia2011050 发表于 2018-6-12 08:33
设备测量的范围小了

是啊，最主要的目的是想看下，我们自己的测量是否有误差？来纠正我们自己的。。

vincent_ting

samsong 发表于 2018-6-12 21:46
从目前我收集到的这些数据来看，是不是做稳定性分析较为妥当？

如果你拿到的数据是同一样本、不同时间测试的结果则可以做稳定性。
但如果是不同样本，那就没多大参考意义。

你现在要证明的是这套量测系统是否适用，所以做G R&R是比较合适。

carson754628

一盏心灯

测量设备本身精度不够，容易出现因测量设备本身的偏差导致的产品测量值超标准。支持楼上的说法，可以先做下G R&R，估计结果不会太好