电子产品外观裂纹检测

wx_cy · 发表于 2019-9-19 09:38:22

@yuwenjing 发表于 2019-9-19 08:33

无脑赞

sogong · 发表于 2019-9-19 09:58:03

wx_cy 发表于 2019-9-19 09:37
电感

个人想法仅供参考，如果肉眼难以检出而且不良率过高应该是分析发生原因了，从根本解决问题；
AOI 应该难以检出，X-ray 应该难以满足批量检查的需求，或者通过性能检测方式判定

灏东 · 发表于 2019-9-19 10:21:49

目检吧

chinape · 发表于 2019-9-19 12:12:30

内部开裂 X-ray

涂建明 · 发表于 2019-9-19 14:39:14

@yuwenjing · 发表于 2019-9-19 15:48:48

wx_cy 发表于 2019-9-19 09:38
无脑赞

bfw · 发表于 2019-9-19 17:10:01

拦截措施总是没有找到根本原因后，改善杜绝来得有效

wx_cy · 发表于 2019-9-19 18:30:35

bfw 发表于 2019-9-19 17:10
拦截措施总是没有找到根本原因后，改善杜绝来得有效

一般这种说法都只是嘴上说说就好

zhwmag · 发表于 2019-9-19 23:03:55

bfw · 发表于 2019-9-20 09:04:46

wx_cy 发表于 2019-9-19 18:30
一般这种说法都只是嘴上说说就好

越是难找到原因，越需要工程和研发介入去查，不然只能质量找拦截措施咯；

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