JEDEC JESD47J.01-2017 集成电路的压力测试驱动认证

ly117568049 · 发表于 2023-6-13 11:56:03

JEDEC JESD47J.01-2017 : Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits

中文名称：集成电路的压力测试驱动认证（JESD47J @ 2017年8月的小修订）
英文名称：Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits (Minor Revision of JESD47J@ August 2017)

TBD16888 · 发表于 2023-6-13 12:53:45

谢谢分享

pdcicbt · 发表于 2023-6-13 14:43:02

谢谢分享

golfgti · 发表于 2023-6-13 15:11:15

谢谢分享

eric_yang · 发表于 2023-6-13 16:18:54

不是最新版呀

ly117568049 · 发表于 2023-6-13 16:26:32

eric_yang 发表于 2023-6-13 16:18
不是最新版呀

以后找到再分享

ly117568049 · 发表于 2023-6-14 07:56:54

LEE142458 · 发表于 2023-6-14 08:54:01

感谢分享

ly117568049 · 发表于 2023-6-16 09:03:18

flyerchang · 发表于 2023-6-19 15:49:02

谢谢分享

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