关于单边公差/双边公差及cpk计算的问题

w10125732

目前遇到了一个情况：比如说电子产品的熔宽，规格要求1.2-4.5，但实际采取的工艺要求是越接近上限越好，实际数据也是集中在4左右。但在这种情况下，算出的CPK就很差。应该按照以下哪种做法呢？
1. 修改规格下限值至实际工艺水平。但是工艺和研发反馈，假设熔宽是1.6，实际也是符合要求的，不能说不合格。
2. 分析cpk时按单边上限公差来计算。
请质量大神赐教不吝感谢。

awwwa88

設計接近上限為最佳   實際作業可接近上限  

1.你上下限設定差距太大  公式可能會以上下限線的中間值為最佳範圍  所以算出來CPK不好
2.可能是你量測儀器分辨率太差  

依零

如果是4.0-4.5是最优设计，说明你们公司的公差设计不合理啊；
另外，如果是计算长期的过程能力，用的是CPK（这个不用公差计算的）；计算下实力值，可以重新设计公差；
短期或单次的PPK，才是用图纸规格公差计算的；

cy19890815

a1148083292 发表于 2024-4-16 14:50
规格1.2-4.5，那不就是双边公差？想办法把样本数据尽量调整至公差带中间，数据就好看了，先调高公差下限值 ...

sigma666

cy同问

114729789

不懂，给你顶一下

Jaycwyzy

可以根据情况，只看Cpu或Cpl

zy-pinzhi

同样遇到这样的问题，请教

a1148083292

规格1.2-4.5，那不就是双边公差？想办法把样本数据尽量调整至公差带中间，数据就好看了，先调高公差下限值试试

林克大魔王

顶

kevin9832

不用太纠结这个，我们这个行业也是，合格就行，但如果要花功夫，根据数据分析再做改进，比如调整公差

时光

长期方法验证实际能力修改规格下限，短期方法只要合格数据可以造假吗！