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JESD22-C101-C

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wodotar201

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品质协会初级会员

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发表于 2024-10-25 11:56:31 | 显示全部楼层 |阅读模式
JEDEC
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Field-Induced Charged-Device Model
Test Method for Electrostatic-
Discharge-Withstand Thresholds of
Microelectronic Components


JESD22-C101-C.pdf

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