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楼主: kaka-one

电子元器件可靠性测试方案

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发表于 2026-6-14 21:22:07 | 显示全部楼层
感谢楼主的详细整理!这个可靠性测试方案对实际工作很有参考价值。想请教一下,在实施AEC-Q100标准测试时,针对芯片的电迁移失效,通常采用哪些具体的加速测试条件来缩短验证周期?
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