AEC-Q100标准系列

haitaojiang2008

不仅是标准原文，还包含了自己添加的注释，以批判的眼光看吧，毕竟只是个人理解。

1. AEC-Q100 Rev_G 中文版《基于集成电路应力测试认证的失效机理》
2. AEC-Q100 Rev_H 《Falure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits》
3. AEC-Q001 Rev_D 《Guidelines Part Average Testing》--有本人添加的注释
4. AEC-Q002 Rev_B1 《Guidelines For Statistical Yield Analysis》--有本人添加的注释
5. AEC-Q003 Rev_A 《Guidelines For Characterization of Integrated Circuits》--有本人添加的注释
6. AEC-Q004《Automotive Zero Defects Framework》
7. AEC-Q005 Rev_A《PB-Free Test Requirements》
8. AEC-Q006《Qualification Requirements For Components Using Copper Wire Interconnections》
9. AEC-Q100-001 Rev_C 《Wire Bond Shear Test》
10.AEC-Q100-002 Rev_E 《Human Body Model Electrostatic Discharge Test》
11.AEC-Q100-004 Rev_D 《IC Latch-Up Test》
12.AEC-Q100-005 Rev_D1 《Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance Data Retention,And Operating Life Test》
13.AEC-Q100-007 Rev_B 《Fault Simulation And Fault Grading》
14.AEC-Q100-008 Rev_A 《Early Life Failure Rate》
15.AEC-Q100-009 Rev_B 《Electrical Distributions Assessment》--有本人添加的注释
16.AEC-Q100-010 Rev_A 《Solder Ball Shear Test》
17.AEC-Q100-011 Rev_D 《Charged Device Model(CDM) Electrostatic Discharge(ESD) Test》
18.AEC-Q100-012 《Short Circuit Reliability Characterization Of Smart Power Devices For 12V Systems》
19.JESD74A 《Early Life Failure Rate Calculation Procedure For Semiconductor Components》--有本人添加的注释

pdcicbt

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叶太平

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